Defective Behaviour of an 8T SRAM Cell with Open Defects
View/Open
05617198.pdf (680,6Kb) (Restricted access)
Request copy
Document typeConference report
Defense date2010
Rights accessRestricted access - publisher's policy
CitationRodríguez, R. [et al.]. Defective Behaviour of an 8T SRAM Cell with Open Defects. A: International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle. "Second International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle". Niça: 2010, p. 81-86.
ISBN978-1-4244-7784-5
Publisher versionhttp://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=5617198
Collections
- Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics (fins octubre 2015) - Ponències/Comunicacions de congressos [36]
- QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades - Ponències/Comunicacions de congressos [60]
- QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat - Ponències/Comunicacions de congressos [76]
- Departament d'Enginyeria Electrònica - Ponències/Comunicacions de congressos [1.490]
| Files | Description | Size | Format | View |
|---|---|---|---|---|
05617198.pdf | 680,6Kb | Restricted access |
Except where otherwise noted, content on this work
is licensed under a Creative Commons license
:
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain