Defective Behaviour of an 8T SRAM Cell with Open Defects

Imatge en miniatura
Visualitza/Obre
05617198.pdf (680,6Kb) (Accés restringit)
Rodríguez Montañés, RosaMés informacióMés informació
Arumi Delgado, DanielMés informacióMés informació
Manich Bou, SalvadorMés informacióMés informació
Figueras Pàmies, Joan
Di Carlo, Stefano
Prinetto, Paolo
Scionti, Alberto
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació2010
Condicions d'accésAccés restringit per política de l'editorial
CitacióRodríguez, R. [et al.]. Defective Behaviour of an 8T SRAM Cell with Open Defects. A: International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle. "Second International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle". Niça: 2010, p. 81-86. 
URIhttp://hdl.handle.net/2117/11989
DOI10.1109/VALID.2010.19
ISBN978-1-4244-7784-5
Versió de l'editorhttp://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=5617198
Col·leccions

FitxersDescripcióMidaFormatVisualitza
05617198.pdfBlocked680,6KbPDFAccés restringit
Llevat que s'hi indiqui el contrari, els continguts d'aquesta obra estan subjectes a la llicència de Creative Commons: Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 3.0 Espanya