TRL calibration applied to the measurement of chip transistor s-parameters up to 40 ghz
Cita com:
hdl:2117/84803
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació1990
EditorInstitute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Condicions d'accésAccés obert
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
CitacióPradell, L., Sabater, C., Artal, E., Comeron, A., Bara, F., Corbella, I., Fortuny, J. TRL calibration applied to the measurement of chip transistor s-parameters up to 40 ghz. A: European Microwave Conference. "EuMc 1990 - 20th European Microwave Conference: Monday 10th to Thursday 13th September 1990: Duna Inter-Continental Hotel, Budapest, Hungary". Budapest: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 1990, p. 214-219.
ISBN0946821070
Versió de l'editorhttp://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=4136003
Col·leccions
- RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones - Ponències/Comunicacions de congressos [151]
- RSLAB - Remote Sensing Research Group - Ponències/Comunicacions de congressos [651]
- Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions - Ponències/Comunicacions de congressos [3.332]
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
TRL calibration ... arameters up to 40 ghz.pdf | 5,389Mb | Visualitza/Obre |