Optical metrology with structured light
Visualitza/Obre
Submitted Paper c8dacd3c-5b33-4d9a-957b-9206340c9e9e.pdf (7,241Mb) (Accés restringit)
Sol·licita una còpia a l'autor
Què és aquest botó?
Aquest botó permet demanar una còpia d'un document restringit a l'autor. Es mostra quan:
- Disposem del correu electrònic de l'autor
- El document té una mida inferior a 20 Mb
- Es tracta d'un document d'accés restringit per decisió de l'autor o d'un document d'accés restringit per política de l'editorial
Cita com:
hdl:2117/99928
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació2016
EditorInternational Society for Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE)
Condicions d'accésAccés restringit per política de l'editorial
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
In this work we will review some of the novel applications, recently proposed, where the use of structured light has played a crucial role. First, in the field of laser remote sensing, we discuss about a technique that allows to measure, in a direct way, the component of velocity perpendicular to the line of sight. This technique has found applications in the field of fluid dynamics, where an effective and simple optical technique capable to provide accurate measurements of ow vorticity, the tendency of a ow to rotate, was recently demonstrated. We then move to the field of profilometry to revise the key ideas behind a highly sensitive interferometric technique for thickness measurement, which is based on mode projection. We finally enter the field of optical activity to explore a novel proposal where an enhanced interaction between the handedness of structured light and chiral molecules was predicted. © (2016) COPYRIGHT Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE). Downloading of the abstract is permitted for personal use only.
CitacióRosales, C., Belmonte, A., Juan P. Torres. Optical metrology with structured light. A: Laser Beam Shaping. "Proceedings of SPIE 9979, Laser Beam Shaping XVII, 995007 (September 27, 2016)". San Diego, California: International Society for Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE), 2016, p. 12.2237576.
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
Submitted Paper ... 4d9a-957b-9206340c9e9e.pdf | 7,241Mb | Accés restringit |