Mostra el registre d'ítem simple

dc.contributorFigueras Pàmies, Joan
dc.contributor.authorRius Vázquez, Josep
dc.contributor.otherUniversitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica
dc.date.accessioned2011-04-12T15:13:13Z
dc.date.available2009-10-05
dc.date.issued1997-06-13
dc.date.submitted2009-03-04
dc.identifier.citationRius Vázquez, J. Sensors i estratègies de test de circuits digitals CMOS per vigilància del consum. Tesi doctoral, UPC, Departament d'Enginyeria Electrònica, 1997. ISBN 9788469270370. DOI 10.5821/dissertation-2117-93675.
dc.identifier.isbn9788469270370
dc.identifier.otherhttp://www.tdx.cat/TDX-0304109-092139
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2117/93675
dc.description.abstractEl objetivo de la tesis es realizar aportaciones en el campo de las estrategias de test basadas en la vigilancia del consumo quiescente de los circuitos integrados CMOS y de los sensores utilizados para dicho fin (test de corriente o test iddq). Para ello se analiza en primer lugar el estado del arte en el diseño de sensores para el test IDDQ y se extraen criterios para la evaluacion de la calidad de dichos sensores. En la tesis se propone un nuevo tipo de sensor integrado (proportional built-in current sensor) que utiliza como elemento transductor un transistor bipolar compatible con la tecnologia CMOS. Se caracteriza tambien su comportamiento estetico y dinamico y se realizan pruebas con circuitos experimentales para validar los analisis realizados.<br/><br/>En la tesis se proponen dos metodos originales para el test IDDQ mediante sensores externos al circuito que se este verificando (cut): el primero se basa en la desconexion de la alimentacion del cut y en la observacion del comportamiento de sus salidas. El segundo metodo se basa en el analisis de la evolucion de la tension en el nodo de alimentacion de un CUT cuando se le aplica un conjunto de vectores de test estando el circuito alimentado por un condensador. Ambos metodos propuestos requieren un interruptor para la alimentacion del CUT con unas caracteristicas especiales. Por ello, se ha diseñado un nuevo tipo de interruptor que cumple con las especificaciones de baja resistencia en estado de conduccion y baja inyeccion de carga en el paso del estado de no conduccion al de conduccion. Finalmente, los metodos propuestos se han validado experimentalmente al ser implementados en una maquina de test convencional verificandose su efectividad en la deteccion de los defectos de multiples circuitos integrados.
dc.language.isocat
dc.publisherUniversitat Politècnica de Catalunya
dc.rightsADVERTIMENT. L'accés als continguts d'aquesta tesi doctoral i la seva utilització ha de respectar els drets de la persona autora. Pot ser utilitzada per a consulta o estudi personal, així com en activitats o materials d'investigació i docència en els termes establerts a l'art. 32 del Text Refós de la Llei de Propietat Intel·lectual (RDL 1/1996). Per altres utilitzacions es requereix l'autorització prèvia i expressa de la persona autora. En qualsevol cas, en la utilització dels seus continguts caldrà indicar de forma clara el nom i cognoms de la persona autora i el títol de la tesi doctoral. No s'autoritza la seva reproducció o altres formes d'explotació efectuades amb finalitats de lucre ni la seva comunicació pública des d'un lloc aliè al servei TDX. Tampoc s'autoritza la presentació del seu contingut en una finestra o marc aliè a TDX (framing). Aquesta reserva de drets afecta tant als continguts de la tesi com als seus resums i índexs.
dc.sourceTDX (Tesis Doctorals en Xarxa)
dc.subjectÀrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
dc.subject.otherultrasons
dc.subject.otherprocessament del senyal
dc.subject.otherinstrumentació i mesura
dc.subject.othercircuits electrònics
dc.titleSensors i estratègies de test de circuits digitals CMOS per vigilància del consum
dc.typeDoctoral thesis
dc.subject.lemacDetectors
dc.subject.lemacMetall-òxid-semiconductors complementaris
dc.identifier.doi10.5821/dissertation-2117-93675
dc.identifier.dlB.45337-2009
dc.rights.accessOpen Access
dc.description.versionPostprint (published version)
dc.identifier.tdxhttp://hdl.handle.net/10803/6363


Fitxers d'aquest items

Thumbnail
Thumbnail

Aquest ítem apareix a les col·leccions següents

Mostra el registre d'ítem simple