Ir al contenido (pulsa Retorno)

Universitat Politècnica de Catalunya

    • Català
    • Castellano
    • English
    • LoginRegisterLog in (no UPC users)
  • mailContact Us
  • world English 
    • Català
    • Castellano
    • English
  • userLogin   
      LoginRegisterLog in (no UPC users)

UPCommons. Global access to UPC knowledge

Banner header
59.732 UPC E-Prints
You are here:
View Item 
  •   DSpace Home
  • E-prints
  • Grups de recerca
  • RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones
  • Ponències/Comunicacions de congressos
  • View Item
  •   DSpace Home
  • E-prints
  • Grups de recerca
  • RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones
  • Ponències/Comunicacions de congressos
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Banco automatizado para la medida de parámetros S, de ruido y características DC de transistores en oblea

Thumbnail
View/Open
URSI_1994_Banco_Automatizado_Merdida_Param_S.pdf (3,389Mb)
Share:
 
  View Usage Statistics
Cita com:
hdl:2117/88024

Show full item record
Pradell i Cara, LluísMés informacióMés informacióMés informació
Purroy, Francesc
Subirats, M.
Ballester, A.
Torres Torres, FranciscoMés informacióMés informacióMés informació
O'Callaghan Castellà, Juan ManuelMés informacióMés informacióMés informació
Corbella Sanahuja, IgnasiMés informacióMés informacióMés informació
Document typeConference report
Defense date1994
Rights accessOpen Access
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
Except where otherwise noted, content on this work is licensed under a Creative Commons license : Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
Abstract
The AMR Group has an automatized bench for the measurement of DC-characteristics, [S] parameters (45 MHz- 40 GHz) and noise parameters (2-26.5 GHz) of microwave on-wafer transistors. The hardware configuration is described, as well as the software applications developed. The measurement procedures are commented in detail, in particular those concerning the noise-parameters extraction techniques. Experimental results show the bench performances.
CitationPradell, L., Purroy, F., Subirats, M., Ballester, A., Torres, F., O'callaghan, J., Corbella, I. Banco automatizado para la medida de parámetros S, de ruido y características DC de transistores en oblea. A: Simposium Nacional de la Unión Científica Internacional de Radio. "Unión Científica Internacional de Radio: IX Symposium Nacional: Las Palmas de Gran Canaria, 21-23 de Septiembre de 1994: actas, tomo III". Las Palmas de Gran Canaria: 1994, p. 1349-1353. 
URIhttp://hdl.handle.net/2117/88024
DLG.C. 1168-1994
Collections
  • RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones - Ponències/Comunicacions de congressos [151]
  • RSLAB - Remote Sensing Research Group - Ponències/Comunicacions de congressos [648]
  • Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions - Ponències/Comunicacions de congressos [3.230]
Share:
 
  View Usage Statistics

Show full item record

FilesDescriptionSizeFormatView
URSI_1994_Banco_Automatizado_Merdida_Param_S.pdf3,389MbPDFView/Open

Browse

This CollectionBy Issue DateAuthorsOther contributionsTitlesSubjectsThis repositoryCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsOther contributionsTitlesSubjects

© UPC Obrir en finestra nova . Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius

info.biblioteques@upc.edu

  • About This Repository
  • Contact Us
  • Send Feedback
  • Privacy Settings
  • Inici de la pàgina