Banco automatizado para la medida de parámetros S, de ruido y características DC de transistores en oblea
Cita com:
hdl:2117/88024
Document typeConference report
Defense date1994
Rights accessOpen Access
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Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
Abstract
The AMR Group has an automatized bench for the measurement of DC-characteristics, [S] parameters (45 MHz- 40 GHz) and noise parameters (2-26.5 GHz) of microwave on-wafer transistors. The hardware configuration is described, as well as the software applications developed. The measurement procedures are commented in detail, in particular those concerning the noise-parameters extraction techniques. Experimental results show the bench performances.
CitationPradell, L., Purroy, F., Subirats, M., Ballester, A., Torres, F., O'callaghan, J., Corbella, I. Banco automatizado para la medida de parámetros S, de ruido y características DC de transistores en oblea. A: Simposium Nacional de la Unión Científica Internacional de Radio. "Unión Científica Internacional de Radio: IX Symposium Nacional: Las Palmas de Gran Canaria, 21-23 de Septiembre de 1994: actas, tomo III". Las Palmas de Gran Canaria: 1994, p. 1349-1353.
DLG.C. 1168-1994
Collections
- RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones - Ponències/Comunicacions de congressos [151]
- RSLAB - Remote Sensing Research Group - Ponències/Comunicacions de congressos [651]
- Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions - Ponències/Comunicacions de congressos [3.403]
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