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dc.contributor.authorFernández Rubio, Juan Antonio
dc.contributor.otherUniversitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions
dc.date.accessioned2016-06-02T14:33:49Z
dc.date.available2016-06-02T14:33:49Z
dc.date.issued1986
dc.identifier.citationFernandez, J. Filtros ML en sistemas de detección y seguimiento en líneas. A: Jornadas de Electrónica Militar. "II Jornadas de Electrónica Militar: Madrid: 11, 12, 13 y 14 de febrero de 1986, IFEMA". Madrid: Fundación Universidad-Empresa, 1986, p. 155-160.
dc.identifier.isbn8486227380
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2117/87649
dc.description.abstractEn el presente trabajo se estudia la aplicación del filtrado ML en sistemas de detección Y seguimiento de líneas a través de una familia de estimadores de función de potencia de parámetros q. Con q = 1 se obtiene el filtro MLM (Maximum Likelhood method) que da una buena estimación del nivel de potencia. Valores mayores del parámetro q permiten obtener una resolución creciente, comparable e incluso superior a los métodos autoregresivos, presentando frente a estos últimos otras ventajas adicionales como son bajos lóbulos laterales y extensión simple a estimación espectral cruzada.
dc.format.extent6 p.
dc.language.isospa
dc.publisherFundación Universidad-Empresa
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
dc.subjectÀrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació
dc.subject.lcshDetectors
dc.titleFiltros ML en sistemas de detección y seguimiento en líneas
dc.typeConference report
dc.subject.lemacDetectors
dc.contributor.groupUniversitat Politècnica de Catalunya. SPCOM - Grup de Recerca de Processament del Senyal i Comunicacions
dc.description.peerreviewedPeer Reviewed
dc.rights.accessOpen Access
local.identifier.drac18546190
dc.description.versionPostprint (published version)
local.citation.authorFernandez, J.
local.citation.contributorJornadas de Electrónica Militar
local.citation.pubplaceMadrid
local.citation.publicationNameII Jornadas de Electrónica Militar: Madrid: 11, 12, 13 y 14 de febrero de 1986, IFEMA
local.citation.startingPage155
local.citation.endingPage160


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