Medida de parámetros S de transistores chip hasta 40 ghz utilizando calibración TRL
Document typeConference report
Defense date1990
Rights accessOpen Access
CitationPradell, L., Sabater, C., Artal, E., Comeron, A., Bara, F., Corbella, I., Fortuny, J. Medida de parámetros S de transistores chip hasta 40 ghz utilizando calibración TRL. A: Simposium Nacional de la Unión Científica Internacional de Radio. "URSI 1990: V Simposium Nacional de la Unión Científica Internacional de Radio: Vigo: 26-28 de septiembre". Vigo (Pontevedra): 1990, p. 590-594.
ISBN84-86360-97-8
Collections
- RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones - Ponències/Comunicacions de congressos [148]
- RSLAB - Remote Sensing Research Group - Ponències/Comunicacions de congressos [607]
- Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions - Ponències/Comunicacions de congressos [3.101]
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