Optimization of short-circuit tests based on finite element analysis
Visualitza/Obre
Optimization of Short-Circuit Tests Based on Finite Element Analysis.pdf (674,4Kb) (Accés restringit)
Sol·licita una còpia a l'autor
Què és aquest botó?
Aquest botó permet demanar una còpia d'un document restringit a l'autor. Es mostra quan:
- Disposem del correu electrònic de l'autor
- El document té una mida inferior a 20 Mb
- Es tracta d'un document d'accés restringit per decisió de l'autor o d'un document d'accés restringit per política de l'editorial
Cita com:
hdl:2117/77106
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació2015
EditorInstitute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Condicions d'accésAccés restringit per política de l'editorial
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
One of the main problems that arises when
performing short-circuit tests to large loops involving substation
connectors is the inductive component of the loop impedance.
Transformers used to perform short-circuit tests have a
secondary winding with very few turns, producing a very low
output voltage. The increase in the reactive component of the
impedance, which is related to loop size, limits the current output
capacity, because the reactive component tends to saturate the
output of the transformer and absorbs large amounts of reactive
power. This paper analyzes a simple method to minimize the
power requirements when conducting short-circuit tests, based
on the reduction of reactive power consumption during the test.
It is based on placing a wired conductor forming a closed inner
loop concentric with the testing loop. The decrease of reactive
power is related to the effect of the mutual inductance between
the inner and outer loops. Three-dimensional finite element
method (3D-FEM) simulations are used to optimize the problem,
allowing changing the geometric and material properties of the
inner loop. Experimental results validate the simulation method
applied in this work to optimize the short-circuit tests
CitacióCapelli, F., Riba, J., González, D. Optimization of short-circuit tests based on finite element analysis. A: IEEE International Conference on Industrial Technology. "Industrial Technology (ICIT), 2015 IEEE International Conference on". Sevilla: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2015, p. 1368-1374.
Versió de l'editorhttp://ieeexplore.ieee.org/xpl/mostRecentIssue.jsp?punumber=7108493
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
Optimization of ... inite Element Analysis.pdf | 674,4Kb | Accés restringit |