Non-invasive RF built-in testing using on-chip temperature sensors

Thumbnail
Visualitza/Obre
Aldrete Vidrio, Héctor
Onabajo, M.
Altet Sanahujes, JosepMés informacióMés informació
Mateo Peña, DiegoMés informacióMés informació
Silva-Martínez, José
Tipus de documentAltres
Data publicació2009-11
EditorIEEE Computer Society Publications
Condicions d'accésAccés obert
Abstract
CitacióAldrete, H. [et al.]. Non-invasive RF built-in testing using on-chip temperature sensors. A: 2009 International Test Conference (ITC). "2009 International Test Conference". Austin, Texas: IEEE Computer Society Publications, 2009, p. 1-4.
URIhttp://hdl.handle.net/2117/7375
ISBN978-1-4244-4867-8
Versió de l'editorhttp://www.itctestweek.org/
Col·leccions

FitxersDescripcióMidaFormatVisualitza
Non-invasive RF built-in testing.pdf371.7KbPDFVisualitza/Obre
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets