Mostra el registre d'ítem simple
Digital signature generator for mixed-signal testing
dc.contributor.author | Sanahuja Moliner, Ricard |
dc.contributor.author | Gómez Pau, Álvaro |
dc.contributor.author | Balado Suárez, Luz María |
dc.contributor.author | Figueras Pàmies, Joan |
dc.contributor.other | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica |
dc.contributor.other | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics |
dc.date.accessioned | 2010-02-10T15:20:40Z |
dc.date.available | 2010-02-10T15:20:40Z |
dc.date.created | 2009 |
dc.date.issued | 2009 |
dc.identifier.citation | Sanahuja, R. [et al.]. Digital signature generator for mixed-signal testing. A: 14th IEEE European Test Symposium. "14th IEEE European Test Symposium". SEVILLA: IEEE Computer Society Publications, 2009. |
dc.identifier.isbn | 9780769537030 |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/6332 |
dc.description | Ponència presentada al 14th IEEE European Test Symposium |
dc.description.abstract | Es presenta un nou generador de signatures digitals per controlar dues senyals anàlogues. Es presenta la tecnologia STM 65 nm per demostrar la viabilitat de la proposta. |
dc.format.extent | 1 p. |
dc.language.iso | eng |
dc.publisher | IEEE Computer Society Publications |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Informàtica::Seguretat informàtica |
dc.subject.lcsh | Digital signatures |
dc.title | Digital signature generator for mixed-signal testing |
dc.type | Conference report |
dc.subject.lemac | Signatures electròniques |
dc.contributor.group | Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat |
dc.relation.publisherversion | http://www.imse-cnm.csic.es/ets09/ |
dc.rights.access | Open Access |
local.identifier.drac | 2377583 |
dc.description.version | Postprint (published version) |
local.citation.author | Sanahuja, R.; Gómez, A.; Balado, L.; Figueras, J. |
local.citation.contributor | 14th IEEE European Test Symposium |
local.citation.pubplace | SEVILLA |
local.citation.publicationName | 14th IEEE European Test Symposium |