Experimental Characterization of NBTI Effect on pMOSFET and CMOS Inverter

Thumbnail
View/Open
Fernández García, RaúlMés informacióMés informacióMés informació
Kaczer, Ben
Gago Barrio, JavierMés informacióMés informacióMés informació
Rodríguez, Rosana
Nafría Maqueda, MontserratMés informació
Document typeConference lecture
Defense date2009-02
Rights accessOpen Access
All rights reserved. This work is protected by the corresponding intellectual and industrial property rights. Without prejudice to any existing legal exemptions, reproduction, distribution, public communication or transformation of this work are prohibited without permission of the copyright holder
CitationFernandez, R. [et al.]. Experimental Characterization of NBTI Effect on pMOSFET and CMOS Inverter. A: Conference on Electron Devices. "7th Spanish conference on Electron Devices (CDE 2009)". Santiago de Compostela: 2009. 
URIhttp://hdl.handle.net/2117/6216
Collections

FilesDescriptionSizeFormatView
NBTI.pdfPoster210,8KbPDFView/Open