Experimental Characterization of NBTI Effect on pMOSFET and CMOS Inverter
Visualitza/Obre
Estadístiques de LA Referencia / Recolecta
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/6216
Tipus de documentComunicació de congrés
Data publicació2009-02
Condicions d'accésAccés obert
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
CitacióFernandez, R. [et al.]. Experimental Characterization of NBTI Effect on pMOSFET and CMOS Inverter. A: Conference on Electron Devices. "7th Spanish conference on Electron Devices (CDE 2009)". Santiago de Compostela: 2009.
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
NBTI.pdf | Poster | 210,8Kb | Visualitza/Obre |