3D printed probe for simultaneous E and H fields measurements

Thumbnail
View/Open
Quílez Figuerola, MarcosMés informacióMés informacióMés informació
Pous Solà, MarcMés informacióMés informació
Mateu Mateus, MarcMés informacióMés informació
Solé Lloveras, JordiMés informacióMés informació
Silva Martínez, FernandoMés informacióMés informacióMés informació
Document typeConference report
Defense date2022
PublisherInstitute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Rights accessOpen Access
All rights reserved. This work is protected by the corresponding intellectual and industrial property rights. Without prejudice to any existing legal exemptions, reproduction, distribution, public communication or transformation of this work are prohibited without permission of the copyright holder
Abstract
CitationQuilez, M. [et al.]. 3D printed probe for simultaneous E and H fields measurements. A: International Symposium on Electromagnetic Compatibility. "2022 International Symposium on Electromagnetic Compatibility: EMC Europe: Gothenburg: Sweden: September 5-8, 2022: proceedings". Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2022, p. 1-4. ISBN 978-1-6654-0787-8. DOI 10.1109/EMCEurope51680.2022.9901151. 
URIhttp://hdl.handle.net/2117/387352
DOI10.1109/EMCEurope51680.2022.9901151
ISBN978-1-6654-0787-8
Publisher versionhttps://ieeexplore.ieee.org/document/9901151
Collections

FilesDescriptionSizeFormatView
EMC+Europe+2022 ... reprint+per++a+drac(2).pdf420,9KbPDFView/Open