VES1 - ATE and Test Quality
Visualitza/Obre
Estadístiques de LA Referencia / Recolecta
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/369968
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació2022-05
Condicions d'accésAccés obert
Llevat que s'hi indiqui el contrari, els
continguts d'aquesta obra estan subjectes a la llicència de Creative Commons
:
Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 4.0 Internacional
Abstract
Improving Test Quality and Reliability via In-system/In-field Testing
Lee HARRISON (Siemens EDA – United Kingdom) How ACS enables an Open Innovation Ecosystem for AI/ML applications in the
Semiconductor Value Chain
Matthias SAUER, Sonny BANWARI (ADVANTEST – Germany) The Need for New DFT Approaches to Scan
Thomas KOEHLER (TERADYNE, Germany)
CitacióEggersgluess, S. Vendor Session 1: ATE and Test Quality. A: 27th IEEE European Test Symposium (ETS). 2022,
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
VS1-0.pdf | 608,2Kb | Visualitza/Obre |