Optical super-resolution techniques for 3D profilometry
Estadístiques de LA Referencia / Recolecta
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/369178
Realitzat a/ambInstitut de Ciències Fotòniques (ICFO); Universitat de Barcelona; Universitat Autònoma de Barcelona
Tipus de documentProjecte Final de Màster Oficial
Data2021-09-01
Condicions d'accésAccés obert
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
The resolution of conventional 3D optical profilometers is limited by diffraction, characterized by the numerical aperture (NA) of the objective and the wavelength of the light source used for imaging. To resolve structures with resolution beyond this limit, super-resolution techniques must be used. In this thesis two super-resolution techniques were evaluated, Structured Illumination microscopy (SIM) and Fourier Ptychography microscopy (FPM), by modifying the acquisition process of already existing profilometry systems provided by Sensofar. The modifications allowed to acquire the datasets necessary to run the reconstruction algorithms for both techniques, which were built to generate higher resolution images as output. The FPM algorithm was also tested on open-source datasets, while the performance of the SIM algorithm was compared to the results of an open-source algorithm.
Col·leccions
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
Optical super-r ... es for 3D profilometry.pdf | 1,247Mb | Visualitza/Obre |