Discussion on “Assessing the goodness of fit of logistic regression models in large samples: A modification of the Hosmer-Lemeshow test” by Giovanni Nattino, Michael L. Pennell, and Stanley Lemeshow
Visualitza/Obre
Cita com:
hdl:2117/328907
Tipus de documentArticle
Data publicació2020-06-12
Condicions d'accésAccés obert
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
CitacióLiu, I.; Fernandez, D. Discussion on «Assessing the goodness of fit of logistic regression models in large samples: A modification of the Hosmer-Lemeshow test» by Giovanni Nattino, Michael L. Pennell, and Stanley Lemeshow. "Biometrics", 12 Juny 2020, vol. 76, núm. 2, p. 564-568.
ISSN0006-341X
Versió de l'editorhttps://onlinelibrary.wiley.com/doi/abs/10.1111/biom.13251
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
LiuFernandez202005Biometrics.pdf | Article | 522,3Kb | Visualitza/Obre |