Modeling technique of the conducted emission of integrated circuit under different temperatures
Visualitza/Obre
Cita com:
hdl:2117/28179
Tipus de documentArticle
Data publicació2015
Condicions d'accésAccés obert
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
In this paper the temperature impact on conducted emissions of ICs up to 3 GHz has been analyzed. The electromagnetic conducted emissions of a commercial IC clock generator have been characterized and modelled from 293 K to 358 K. A temperature parametrized lumped-electrical equivalent model including the PCB and IC behaviour has been developed and validated by means of Feature Selective Validation. The results show that the passive distribution network is slightly affected by the temperature, whereas the IC conducted emission presents a clear temperature variation.
CitacióBerbel, N.; Fernandez-Garcia, R.; Gil, I. Modeling technique of the conducted emission of integrated circuit under different temperatures. "International journal of numerical modeling. Electronic networks devices and fields", 2015.
ISSN0894-3370
Versió de l'editorhttp://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/jnm.2076/abstract
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
IJNM_upc_commons.pdf | 1,499Mb | Visualitza/Obre |