Mostra el registre d'ítem simple

dc.contributor.authorLópez Martí, Gema
dc.contributor.authorOrtega Villasclaras, Pablo Rafael
dc.contributor.authorVoz Sánchez, Cristóbal
dc.contributor.authorMartín García, Isidro
dc.contributor.authorColina Brito, Mónica Alejandra
dc.contributor.authorMorales Vilches, Ana Belén
dc.contributor.authorOrpella García, Alberto
dc.contributor.authorAlcubilla González, Ramón
dc.contributor.otherUniversitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica
dc.date.accessioned2015-03-18T16:49:38Z
dc.date.created2013
dc.date.issued2013
dc.identifier.citationLópez, G. [et al.]. Surface passivation and optical characterization of Al2O3/a-SiCx stacks on c-Si substrates. A: E-MRS Spring Meeting. "E-MRS 2013 Spring Meeting. Congres Center - Strasbourg, France May 27th - 31st, 2013". Strasbourg: 2013, p. 1.
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2117/26822
dc.format.extent1 p.
dc.language.isoeng
dc.subjectÀrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica
dc.subject.lcshNanoelectronics
dc.titleSurface passivation and optical characterization of Al2O3/a-SiCx stacks on c-Si substrates
dc.typeOther
dc.subject.lemacNanoelectrònica
dc.contributor.groupUniversitat Politècnica de Catalunya. MNT - Grup de Recerca en Micro i Nanotecnologies
dc.rights.accessRestricted access - publisher's policy
local.identifier.drac12743780
dc.description.versionPostprint (published version)
dc.date.lift10000-01-01
local.citation.authorLópez, G.; Ortega, P.; Voz, C.; Martin, I.; Colina, M.A.; Morales, A.; Orpella, A.; Alcubilla, R.
local.citation.contributorE-MRS Spring Meeting
local.citation.pubplaceStrasbourg
local.citation.publicationNameE-MRS 2013 Spring Meeting. Congres Center - Strasbourg, France May 27th - 31st, 2013
local.citation.startingPage1
local.citation.endingPage1


Fitxers d'aquest items

Imatge en miniatura

Aquest ítem apareix a les col·leccions següents

Mostra el registre d'ítem simple