Mostra el registre d'ítem simple

dc.contributor.authorBanerjee, Suvadeep
dc.contributor.authorGómez Pau, Álvaro
dc.contributor.authorChatterjee, Abhijit
dc.contributor.authorAbraham, Jacob
dc.contributor.otherUniversitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica
dc.date.accessioned2015-01-14T17:23:47Z
dc.date.created2014
dc.date.issued2014
dc.identifier.citationBanerjee, S. [et al.]. Error resilient real-time state variable systems signal processing and control. A: Asian Test Symposium. "Asian Test Symposium". Hangzhou: 2014, p. 39-44.
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2117/25523
dc.format.extent6 p.
dc.language.isoeng
dc.subjectÀrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
dc.subject.lcshElectronics
dc.titleError resilient real-time state variable systems signal processing and control
dc.typeConference report
dc.subject.lemacEnginyeria electrònica
dc.contributor.groupUniversitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat
dc.identifier.doi10.1109/ATS.2014.19
dc.rights.accessRestricted access - publisher's policy
local.identifier.drac15358980
dc.description.versionPostprint (published version)
dc.date.lift10000-01-01
local.citation.authorBanerjee, S.; Álvaro Gómez-Pau; Chatterjee, A.; Abraham, J.
local.citation.contributorAsian Test Symposium
local.citation.pubplaceHangzhou
local.citation.publicationNameAsian Test Symposium
local.citation.startingPage39
local.citation.endingPage44


Fitxers d'aquest items

Imatge en miniatura

Aquest ítem apareix a les col·leccions següents

Mostra el registre d'ítem simple