Quality metrics for mixed-signal indirect testing
Visualitza/Obre
Estadístiques de LA Referencia / Recolecta
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/25521
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació2014
Condicions d'accésAccés obert
Llevat que s'hi indiqui el contrari, els
continguts d'aquesta obra estan subjectes a la llicència de Creative Commons
:
Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 3.0 Espanya
CitacióÁlvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J. Quality metrics for mixed-signal indirect testing. A: Design of Circuits and Integrated Systems Conference. "XXIX Conference on Design of Circuits and Integrated Systems". Madrid: 2014, p. 1-6.
Versió de l'editorhttp://www.cei.upm.es/dcis/
Col·leccions
- QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades - Ponències/Comunicacions de congressos [60]
- QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat - Ponències/Comunicacions de congressos [78]
- Departament d'Enginyeria Electrònica - Ponències/Comunicacions de congressos [1.714]
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
dcis2014.pdf | Quality Metrics for Mixed-Signal Indirect Testing | 3,067Mb | Visualitza/Obre |