SRAM cell stability metric under transient voltage noise
Visualitza/Obre
Article principal (2,842Mb) (Accés restringit)
Sol·licita una còpia a l'autor
Què és aquest botó?
Aquest botó permet demanar una còpia d'un document restringit a l'autor. Es mostra quan:
- Disposem del correu electrònic de l'autor
- El document té una mida inferior a 20 Mb
- Es tracta d'un document d'accés restringit per decisió de l'autor o d'un document d'accés restringit per política de l'editorial
Cita com:
hdl:2117/25228
Tipus de documentArticle
Data publicació2013-12-20
Condicions d'accésAccés restringit per política de l'editorial
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
CitacióVatajelu, E. [et al.]. SRAM cell stability metric under transient voltage noise. "Microelectronics journal", 20 Desembre 2013, vol. 45, núm. 10, p. 1348-1353.
ISSN0026-2692
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
sram cell.pdf | Article principal | 2,842Mb | Accés restringit |