Use of reference limits in the Feature Selective Validation (FSV) method
Visualitza/Obre
Use of reference limits in the Feature Selective Validation (FSV) method (143,5Kb) (Accés restringit)
Sol·licita una còpia a l'autor
Què és aquest botó?
Aquest botó permet demanar una còpia d'un document restringit a l'autor. Es mostra quan:
- Disposem del correu electrònic de l'autor
- El document té una mida inferior a 20 Mb
- Es tracta d'un document d'accés restringit per decisió de l'autor o d'un document d'accés restringit per política de l'editorial
10.1109/EMCEurope.2014.6931054
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/24758
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació2014
EditorInstitute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Condicions d'accésAccés restringit per política de l'editorial
Llevat que s'hi indiqui el contrari, els
continguts d'aquesta obra estan subjectes a la llicència de Creative Commons
:
Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 3.0 Espanya
Abstract
This paper presents a method for taking into account reference limits when the Feature Selective method (FSV) is applied. Nowadays, there is a long line of research that underlines the important role played by the FSV to perform an objective validation process. However, until now, there has been no consideration of a reference level in the validation process. This paper presents a methodology to calculate the FSV values when a reference limit is contemplated. We demonstrate the importance of this technique in the validation criteria for the Computational Electromagnetics and, more particularly, in the EMC comparison process. Finally, in order to show the application and the importance of the method, two real cases, considering different reference levels, are analysed.
CitacióJaúregui, R.I.; Pous, M.; Silva, F. Use of reference limits in the Feature Selective Validation (FSV) method. A: International Symposium on Electromagnetic Compatibility. "2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility: September 1-4, 2014: Gothenburg, Sweden". Gotheborg: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2014, p. 1031-1036.
ISBN978-1-4799-3226-9
Versió de l'editorhttp://ieeexplore.ieee.org/xpls/abs_all.jsp?arnumber=6931054
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
Use of referenc ... alidation (FSV) method.pdf | Use of reference limits in the Feature Selective Validation (FSV) method | 143,5Kb | Accés restringit |