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dc.contributor.authorJordana Barnils, José
dc.contributor.otherUniversitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica
dc.date.accessioned2008-12-09T14:46:59Z
dc.date.available2008-12-09T14:46:59Z
dc.date.issued2006-06
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2117/2436
dc.description.abstractEn este trabajo describimos la evaluación continua que se aplica en la asignatura Componentes y Circuitos en la titulación Ingeniería Técnica de Telecomunicación de la Escuela Politécnica Superior de Castelldefels (EPSC). La evaluación de la asignatura se divide en dos partes: un 50 % corresponde a las sesiones de teoría y el otro 50 % corresponde a las sesiones de laboratorio. La experiencia que describimos se refiere al cuatrimestre de otoño de 2006. En el trabajo se realiza un estudio cuantitativo del rendimiento conseguido por los estudiantes, en función de sus estudios de procedencia y de su nota de acceso a la Universidad.
dc.format.extent11
dc.language.isospa
dc.relation.ispartofVIII Congreso de Tecnologías Aplicadas a la Enseñanza de la Electrónica
dc.rightsAttribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
dc.subjectÀrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Components electrònics
dc.subject.lcshElectronic apparatus and appliances
dc.subject.othercircuits
dc.subject.otherEEES
dc.titleEvaluación continua aplicada a la asignatura componentes y circuitos en su adecuación al EEES: cuatrimestre de otoño de 2006
dc.typeConference lecture
dc.subject.lemacComponents electrònics
dc.subject.lemacCircuits
dc.contributor.groupUniversitat Politècnica de Catalunya. GRUP ISI - Grup d'Instrumentació, Sensors i Interfícies
dc.date.end2008-07-04
dc.date.start2008-07-02
dc.rights.accessOpen Access


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