Modeling and simulation of conducting crack propagation in ferroelectric single crystals under purely electrical loading
Visualitza/Obre
Estadístiques de LA Referencia / Recolecta
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/22836
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació2013
Condicions d'accésAccés obert
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
We present a phase-field model of fracture in ferroelectric single crystals for the simulation of conducting crack propagation under purely electrical loading. This is done by introducing the electrical enthalpy of a diffuse conducting layer into the phase-field formulation. Simulation results show an oblique crack propagation and crack branching from a conducting notch in a ferroelectric sample under applied electric fields. Microstructure evolution indicates the formation of 90 domains which results in a charge accumulation around the crack. The charge accumulation, in turn, induces a high electric field and hence a high electrostatic energy for driving the conducting crack.
CitacióAbdollahi, A.; Arias, I. Modeling and simulation of conducting crack propagation in ferroelectric single crystals under purely electrical loading. A: International Conference on Computational Plasticity Fundamentals and Applications. "Computational Plasticity XII: Fundamentals and Applications. Proceedings of the XII International Conference on Computational Plasticity – Fundamentals and Applications Barcelona, Spain3 - 5 September 2013". Barcelona: 2013, p. 400-406.
Dipòsit legalB-19898-2013
ISBN978-849415315-0
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
Modeling and simulation.pdf | 515,2Kb | Visualitza/Obre |