An X-ray photoelectron spectroscopy study of the hydration of C2S thin films
Visualitza/Obre
Article principal (1,038Mb) (Accés restringit)
Sol·licita una còpia a l'autor
Què és aquest botó?
Aquest botó permet demanar una còpia d'un document restringit a l'autor. Es mostra quan:
- Disposem del correu electrònic de l'autor
- El document té una mida inferior a 20 Mb
- Es tracta d'un document d'accés restringit per decisió de l'autor o d'un document d'accés restringit per política de l'editorial
10.1016/j.cemconres.2014.03.005
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/22734
Tipus de documentArticle
Data publicació2014-06
Condicions d'accésAccés restringit per política de l'editorial
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
Electron-beam evaporation was used to produce thin films of ß-dicalcium silicate. Chemical and mineralogical compositions were characterized by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and grazing-angle X-ray diffraction (GAXRD), respectively. Results showthat no fractionation occurs during evaporation and isostructural condensation of the material as synthesized films have the same composition as the initial bulk material. Samples were gradually hydrated under saturatedwater spray conditions and analyzed with XPS. Polymerization of the silicate chains due to hydration, and subsequent formation of C-S-H, has been monitored through evaluation of energy shifts on characteristic silicon peaks. Quantitative analyses show changes on the surface by the reduction of the Ca/Si ratio and an increase on the difference between binding energies of bridging and non-bridging oxygen. Finally, SEM/FIB observation shows clear differences between the surface and cross section of the initial sample and the reacted sample.
CitacióRheinheimer, V.; Casanova, I. An X-ray photoelectron spectroscopy study of the hydration of C2S thin films. "Cement and concrete research", Juny 2014, vol. 60, p. 83-90.
ISSN0008-8846
Versió de l'editorhttp://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0008884614000672
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
CCR.pdf | Article principal | 1,038Mb | Accés restringit |