A nanometric displacement measurement system using differential optical feedback interferometry

Imatge en miniatura
Visualitza/Obre
A nanometric displacement.pdf (1,534Mb) (Accés restringit)
Azcona Guerrero, Francisco JavierMés informació
Atashkhooei, Reza
Royo Royo, SantiagoMés informacióMés informació
Méndez Astudillo, Jorge
Jha, Ajit
Tipus de documentArticle
Data publicació2013-11-01
Condicions d'accésAccés restringit per política de l'editorial
CitacióAzcona, F. [et al.]. A nanometric displacement measurement system using differential optical feedback interferometry. "IEEE photonics technology letters", 01 Novembre 2013, vol. 25, núm. 21, p. 2074-2077. 
URIhttp://hdl.handle.net/2117/21004
DOI10.1109/LPT.2013.2281269
ISSN1041-1135
Versió de l'editorhttp://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?arnumber=6595025
Col·leccions

FitxersDescripcióMidaFormatVisualitza
A nanometric displacement.pdfBlocked1,534MbPDFAccés restringit
Llevat que s'hi indiqui el contrari, els continguts d'aquesta obra estan subjectes a la llicència de Creative Commons: Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 3.0 Espanya