Ir al contenido (pulsa Retorno)

Universitat Politècnica de Catalunya

    • Català
    • Castellano
    • English
    • LoginRegisterLog in (no UPC users)
  • mailContact Us
  • world English 
    • Català
    • Castellano
    • English
  • userLogin   
      LoginRegisterLog in (no UPC users)

UPCommons. Global access to UPC knowledge

Banner header
61.690 UPC E-Prints
You are here:
View Item 
  •   DSpace Home
  • E-prints
  • Departaments
  • Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics (fins octubre 2015)
  • Ponències/Comunicacions de congressos
  • View Item
  •   DSpace Home
  • E-prints
  • Departaments
  • Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics (fins octubre 2015)
  • Ponències/Comunicacions de congressos
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Analog circuit test based on a digital signature

Thumbnail
View/Open
Ponència (311,3Kb)
  View Usage Statistics
  LA Referencia / Recolecta stats
Cita com:
hdl:2117/20632

Show full item record
Gómez Pau, ÁlvaroMés informacióMés informacióMés informació
Sanahuja Moliner, Ricard
Balado Suárez, Luz MaríaMés informacióMés informació
Figueras Pàmies, JoanMés informació
Document typeConference report
Defense date2010
Rights accessOpen Access
All rights reserved. This work is protected by the corresponding intellectual and industrial property rights. Without prejudice to any existing legal exemptions, reproduction, distribution, public communication or transformation of this work are prohibited without permission of the copyright holder
Abstract
Production verification of analog circuit specifica- tions is a challenging task requiring expensive test equipment and time consuming procedures. This paper presents a method for low cost on-chip parameter verification based on the analysis of a digital signature. A 65 nm CMOS on-chip monitor is proposed and validated in practice. The monitor composes two signals (x(t), y(t)) and divides the X-Y plane with nonlinear boundaries in order to generate a digital code for every analog (x, y) location. A digital signature is obtained using the digital code and its time duration. A metric defining a discrepancy factor is used to verify circuit parameters. The method is applied to detect possible deviations in the natural frequency of a Biquad filter. Simulated and experimental results show the possibilities of the proposal.
CitationÁlvaro Gómez-Pau [et al.]. Analog circuit test based on a digital signature. A: Design, Automation and Test in Europe. "Proceedings: Design, Automation & Test in Europe: Dresden, Germany, March 8-12, 2010". Dresden: 2010, p. 1641-1644. 
URIhttp://hdl.handle.net/2117/20632
Publisher versionhttp://www.date-conference.com/proceedings/PAPERS/2010/YEAR.HTM
Collections
  • Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics (fins octubre 2015) - Ponències/Comunicacions de congressos [36]
  • QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades - Ponències/Comunicacions de congressos [60]
  • QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat - Ponències/Comunicacions de congressos [78]
  • Departament d'Enginyeria Electrònica - Ponències/Comunicacions de congressos [1.665]
  View Usage Statistics

Show full item record

FilesDescriptionSizeFormatView
IP5_06.pdfPonència311,3KbPDFView/Open

Browse

This CollectionBy Issue DateAuthorsOther contributionsTitlesSubjectsThis repositoryCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsOther contributionsTitlesSubjects

© UPC Obrir en finestra nova . Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius

info.biblioteques@upc.edu

  • About This Repository
  • Contact Us
  • Send Feedback
  • Privacy Settings
  • Inici de la pàgina