Systematic and random variability analysis of two different 6T-SRAM layout topologies
Visualitza/Obre
Cita com:
hdl:2117/20392
Tipus de documentArticle
Data publicació2013-09
Condicions d'accésAccés obert
Llevat que s'hi indiqui el contrari, els
continguts d'aquesta obra estan subjectes a la llicència de Creative Commons
:
Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 3.0 Espanya
CitacióAmat, E. [et al.]. Systematic and random variability analysis of two different 6T-SRAM layout topologies. "Microelectronics journal", Setembre 2013, vol. 44, núm. 9, p. 787-793.
ISSN0026-2692
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
systematic.pdf | Article principal | 3,154Mb | Visualitza/Obre |