Systematic and random variability analysis of two different 6T-SRAM layout topologies

Thumbnail
View/Open
Amat Bertran, Esteve
Amatlle, E.
Gómez González, SergioMés informacióMés informacióMés informació
Aymerich Capdevila, Nivard
García Almudéver, Carmen
Moll Echeto, Francisco de BorjaMés informacióMés informacióMés informació
Rubio Sola, Jose AntonioMés informacióMés informacióMés informació
Document typeArticle
Defense date2013-09
Rights accessOpen Access
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
Except where otherwise noted, content on this work is licensed under a Creative Commons license : Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
ProjectTRAMS - TERASCALE RELIABLE ADAPTIVE MEMORY SYSTEMS (EC-FP7-248789)
CitationAmat, E. [et al.]. Systematic and random variability analysis of two different 6T-SRAM layout topologies. "Microelectronics journal", Setembre 2013, vol. 44, núm. 9, p. 787-793. 
URIhttp://hdl.handle.net/2117/20392
DOI10.1016/j.mejo.2013.06.010
ISSN0026-2692
Collections

FilesDescriptionSizeFormatView
systematic.pdfArticle principal3,154MbPDFView/Open