Condution mechanisms and charge trapping control in SiO2 nanoparticle MIM capacitors

Thumbnail
View/Open
eMIM_Revised_paper.pdf (1,286Mb) (Restricted access)   Request copy 
Bheesayagari, Chenna Reddy
Pons Nin, JoanMés informacióMés informació
Orpella García, AlbertoMés informacióMés informació
Véliz Noboa, Bremnen Marino
Bermejo Broto, SandraMés informacióMés informació
Domínguez Pumar, ManuelMés informacióMés informació
Document typeArticle
Defense date2020-06-20
Rights accessRestricted access - publisher's policy (embargoed until 2022-04-18)
Abstract
Description
CitationBheesayagari, C. [et al.]. Condution mechanisms and charge trapping control in SiO2 nanoparticle MIM capacitors. "(0013-4686) Electrochimica acta", 20 Juny 2020, vol. 346, p. 136202:1-136202:9. 
URIhttp://hdl.handle.net/2117/191726
DOI10.1016/j.electacta.2020.136202
Publisher versionhttps://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0013468620305946
Collections

FilesDescriptionSizeFormatView
eMIM_Revised_paper.pdfBlocked1,286MbPDFRestricted access
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
Except where otherwise noted, content on this work is licensed under a Creative Commons license : Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain