Condution mechanisms and charge trapping control in SiO2 nanoparticle MIM capacitors

Thumbnail
View/Open
Bheesayagari, Chenna Reddy
Pons Nin, JoanMés informacióMés informacióMés informació
Orpella García, AlbertoMés informacióMés informacióMés informació
Véliz Noboa, Bremnen Marino
Bermejo Broto, SandraMés informacióMés informacióMés informació
Domínguez Pumar, ManuelMés informacióMés informacióMés informació
Document typeArticle
Defense date2020-06-20
Rights accessOpen Access
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
Except where otherwise noted, content on this work is licensed under a Creative Commons license : Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
ProjectINSTRUMENTACION PARA CARACTERIZAR EL ENTORNO MARCIANO EN MISIONES DE LA NASA: SENSORES DE VIENTO PARA MEDA (CONCLUSION DE LAS FASES D Y E) (AEI-RTI2018-098728-B-C33)
Abstract
Description
CitationBheesayagari, C. [et al.]. Condution mechanisms and charge trapping control in SiO2 nanoparticle MIM capacitors. "(0013-4686) Electrochimica acta", 20 Juny 2020, vol. 346, p. 136202:1-136202:9. 
URIhttp://hdl.handle.net/2117/191726
DOI10.1016/j.electacta.2020.136202
Publisher versionhttps://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0013468620305946
Collections

FilesDescriptionSizeFormatView
eMIM_Revised_paper.pdf1,286MbPDFView/Open