Show simple item record

dc.contributorLampon Diestre, Cristina
dc.contributor.authorGimeno Peredo, Cristian
dc.contributor.otherUniversitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria de Sistemes, Automàtica i Informàtica Industrial
dc.date.accessioned2020-05-06T07:31:35Z
dc.date.available2020-05-06T07:31:35Z
dc.date.issued2020-02-06
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2117/186466
dc.description.abstractL’objectiu del treball exposat a continuació és el de construir un testejador de circuits integrats anomenat IC-Tester, una eina molt útil per a la reparació de circuits electrònics. La gran majoria d’aparells electrònics disposen de circuits integrats Integrated Circuits o IC en anglès, també anomenats xips que desenvolupen un seguit d’operacions fixades. Aquestes operacions són intrínseques a la seva estructura física i són predeterminades en la construcció dels xips. Els xips acostumen a ser implementats sobre plaques base juntament amb altres components com resistències, condensadors, díodes... Les connexions amb la resta de dispositius es fan mitjançant “pistes” de material conductor en comptes de cablejat. Aquestes pistes són construïdes sobre la placa en el moment de la seva fabricació. Degut al gran nombre de components, xips i pistes, la reparació de dispositius electrònics pot esdevenir una tasca llarga, tediosa i inclús infinita si no es disposa de les eines o coneixements. A més de la gran varietat d’eines necessàries per estudiar i entendre el funcionament del dispositiu electrònic a reparar, els coneixements electrònics que tingui la persona reparadora poden no ser suficients per a identificar i solucionar el problema. La naturalesa d’aquesta insuficiència recau en dues problemàtiques: - Xips i components no estan identificats ni etiquetats. - El disseny de la placa base no ha sigut compartit pel fabricant. Són aquestes les dues tendències pròpies del disseny i fabricació a les que aquest treball pretén fer front. L’elaboració de l’IC Tester es troba fonamentada en dos pilars. E primer lloc, el disseny de funcionalitat del testejador mitjançant el programari de codi obert d’Arduino. Aquest codi requerirà del lector ser coneixedor de programació informàtica per l’enteniment complert del disseny. En segon lloc, la construcció del testejador mitjançant una placa d’Arduino i components simples d’electrònica els quals només requeriran coneixements bàsics. Un cop llegit i entès aquest document, el lector serà capaç d’elaborar el seu propi testejador mitjançant la guia adjunta que indica pas a pas el procediment de construcció implementat per fabricar l’IC-Tester
dc.language.isocat
dc.publisherUniversitat Politècnica de Catalunya
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
dc.subjectÀrees temàtiques de la UPC::Informàtica::Automàtica i control
dc.subject.lcshIntegrated circuits--Testing
dc.titleEstudi de la viabilitat sobre reparació en l’electrònica: elaboració de l’IC tester
dc.typeBachelor thesis
dc.subject.lemacCircuits integrats -- Proves
dc.identifier.slugETSEIB-240.149361
dc.rights.accessOpen Access
dc.date.updated2020-02-06T06:23:05Z
dc.audience.educationlevelGrau
dc.audience.mediatorEscola Tècnica Superior d'Enginyeria Industrial de Barcelona
dc.audience.degreeGRAU EN ENGINYERIA EN TECNOLOGIES INDUSTRIALS (Pla 2010)


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record