Mostra el registre d'ítem simple

dc.contributor.authorGómez Pau, Álvaro
dc.contributor.authorSanahuja Moliner, Ricard
dc.contributor.authorBalado Suárez, Luz María
dc.contributor.authorFigueras Pàmies, Joan
dc.contributor.otherUniversitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica
dc.contributor.otherUniversitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics
dc.date.accessioned2013-02-22T14:42:57Z
dc.date.available2013-02-22T14:42:57Z
dc.date.created2012
dc.date.issued2012
dc.identifier.citationÁlvaro Gómez-Pau [et al.]. Built-In test of MEMS capacitive accelerometers for field failures and aging degradation.. A: Design of Circuits and Integrated Systems Conference. "Proceedings of XXVIIth Conference on Design of Circuits and Integrated Systems". Avignon: 2012, p. 223-228.
dc.identifier.isbn978-2-9517461-1-4
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2117/17947
dc.format.extent6 p.
dc.language.isoeng
dc.rightsAttribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
dc.subjectÀrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
dc.subject.lcshAccelerometers.
dc.titleBuilt-In test of MEMS capacitive accelerometers for field failures and aging degradation.
dc.typeConference report
dc.subject.lemacAcceleròmetres
dc.contributor.groupUniversitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat
dc.rights.accessOpen Access
local.identifier.drac11420190
dc.description.versionPostprint (published version)
local.citation.authorÁlvaro Gómez-Pau; Sanahuja, R.; Balado, L.; Figueras, J.
local.citation.contributorDesign of Circuits and Integrated Systems Conference
local.citation.pubplaceAvignon
local.citation.publicationNameProceedings of XXVIIth Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
local.citation.startingPage223
local.citation.endingPage228


Fitxers d'aquest items

Thumbnail

Aquest ítem apareix a les col·leccions següents

Mostra el registre d'ítem simple