Built-In test of MEMS capacitive accelerometers for field failures and aging degradation.
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació2012
Condicions d'accésAccés obert
Llevat que s'hi indiqui el contrari, els
continguts d'aquesta obra estan subjectes a la llicència de Creative Commons
:
Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 3.0 Espanya
CitacióÁlvaro Gómez-Pau [et al.]. Built-In test of MEMS capacitive accelerometers for field failures and aging degradation.. A: Design of Circuits and Integrated Systems Conference. "Proceedings of XXVIIth Conference on Design of Circuits and Integrated Systems". Avignon: 2012, p. 223-228.
ISBN978-2-9517461-1-4
Col·leccions
- Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics (fins octubre 2015) - Ponències/Comunicacions de congressos [36]
- QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades - Ponències/Comunicacions de congressos [60]
- QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat - Ponències/Comunicacions de congressos [78]
- Departament d'Enginyeria Electrònica - Ponències/Comunicacions de congressos [1.715]
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
dcis2012.pdf | Built-In Test of MEMS Capacitive Accelerometers for Field Failures and Aging Degradation | 654,4Kb | Visualitza/Obre |