Built-In test of MEMS capacitive accelerometers for field failures and aging degradation.
Document typeConference report
Defense date2012
Rights accessOpen Access
CitationÁlvaro Gómez-Pau [et al.]. Built-In test of MEMS capacitive accelerometers for field failures and aging degradation.. A: Design of Circuits and Integrated Systems Conference. "Proceedings of XXVIIth Conference on Design of Circuits and Integrated Systems". Avignon: 2012, p. 223-228.
ISBN978-2-9517461-1-4
Collections
- Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics (fins octubre 2015) - Ponències/Comunicacions de congressos [36]
- QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades - Ponències/Comunicacions de congressos [60]
- QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat - Ponències/Comunicacions de congressos [76]
- Departament d'Enginyeria Electrònica - Ponències/Comunicacions de congressos [1.490]
| Files | Description | Size | Format | View |
|---|---|---|---|---|
| dcis2012.pdf | Built-In Test of MEMS Capacitive Accelerometers for Field Failures and Aging Degradation | 654,4Kb | View/Open |
Except where otherwise noted, content on this work
is licensed under a Creative Commons license
:
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain