Converse flexoelectricity yields large piezoresponse force microscopy signals in non-piezoelectric materials
Visualitza/Obre
Cita com:
hdl:2117/169826
Tipus de documentArticle
Data publicació2019-03-20
Condicions d'accésAccés obert
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
ProjecteFLEXOCOMP - Enabling flexoelectric engineering through modeling and computation (EC-H2020-679451)
Abstract
Converse flexoelectricity is a mechanical stress induced by an electric polarization gradient. It can appear in any material, irrespective of symmetry, whenever there is an inhomogeneous electric field distribution. This situation invariably happens in piezoresponse force microscopy (PFM), which is a technique whereby a voltage is delivered to the tip of an atomic force microscope in order to stimulate and probe piezoelectricity at the nanoscale. While PFM is the premier technique for studying ferroelectricity and piezoelectricity at the nanoscale, here we show, theoretically and experimentally, that large effective piezoelectric coefficients can be measured in non-piezoelectric dielectrics due to converse flexoelectricity.
CitacióAbdollahi, A. [et al.]. Converse flexoelectricity yields large piezoresponse force microscopy signals in non-piezoelectric materials. "Nature communications", 20 Març 2019, vol. 10, núm. 1266, p. 1-6.
ISSN2041-1723
Versió de l'editorhttps://www.nature.com/articles/s41467-019-09266-y
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
s41467-019-09266-y.pdf | 936,9Kb | Visualitza/Obre |