Mostra el registre d'ítem simple

dc.contributor.authorPons Rivero, Antonio Javier
dc.contributor.otherUniversitat Politècnica de Catalunya. Departament de Física i Enginyeria Nuclear
dc.date.accessioned2012-06-09T09:30:47Z
dc.date.created2012-05-10
dc.date.issued2012-05-10
dc.identifier.citationPons, A. J. Cracks tamed. "Nature", 10 Maig 2012, vol. 485, p. 177-178.
dc.identifier.issn0028-0836
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2117/15994
dc.description.abstractCrack propagation in materials is rarely welcome. But carefully engineered cracks produced during the deposition of a film on silicon can be used to efficiently create pre-designed patterns of nanometre-scale channels.
dc.format.extent2 p.
dc.language.isoeng
dc.subjectÀrees temàtiques de la UPC::Enginyeria dels materials::Assaig de materials
dc.subject.lcshFracture mechanics
dc.titleCracks tamed
dc.typeArticle
dc.subject.lemacFractures, Mecànica de
dc.contributor.groupUniversitat Politècnica de Catalunya. DONLL - Dinàmica no Lineal, Òptica no Lineal i Làsers
dc.identifier.doi10.1038/485177a
dc.description.peerreviewedPeer Reviewed
dc.relation.publisherversionhttp://www.nature.com/nature/journal/v485/n7397/full/485177a.html
dc.rights.accessRestricted access - publisher's policy
local.identifier.drac10367052
dc.description.versionPostprint (published version)
dc.date.lift10000-01-01
local.citation.authorPons, A. J.
local.citation.publicationNameNature
local.citation.volume485
local.citation.startingPage177
local.citation.endingPage178


Fitxers d'aquest items

Imatge en miniatura

Aquest ítem apareix a les col·leccions següents

Mostra el registre d'ítem simple