Mid-IR characterization of photonic bands in 2D photonic crystals on silicon
Visualitza/Obre
1-s2.0-S0040609008003738-main.pdf (553,8Kb) (Accés restringit)
Sol·licita una còpia a l'autor
Què és aquest botó?
Aquest botó permet demanar una còpia d'un document restringit a l'autor. Es mostra quan:
- Disposem del correu electrònic de l'autor
- El document té una mida inferior a 20 Mb
- Es tracta d'un document d'accés restringit per decisió de l'autor o d'un document d'accés restringit per política de l'editorial
Cita com:
hdl:2117/121415
Tipus de documentArticle
Data publicació2008-09-30
Condicions d'accésAccés restringit per política de l'editorial
Llevat que s'hi indiqui el contrari, els
continguts d'aquesta obra estan subjectes a la llicència de Creative Commons
:
Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 3.0 Espanya
Abstract
We report the characterization of two-dimensional silicon photonic crystals using angular-dependent reflectivity in the mid-IR. The photonic crystals are obtained by electrochemical etching of an ordered array of holes into silicon. The measurements are compared with the theoretical calculations of the corresponding model based on the interaction of the incident light with the photonic crystal sample. A good agreement between the measurements and the calculations is achieved.
CitacióKral, Z., Ferré-Borrull, J, Trifonov, T., Marsal, L., Rodriguez, A., Pallares, J., Alcubilla, R. Mid-IR characterization of photonic bands in 2D photonic crystals on silicon. "Thin solid films", 30 Setembre 2008, vol. 516, núm. 22, p. 8059-8063.
ISSN0040-6090
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
1-s2.0-S0040609008003738-main.pdf | 553,8Kb | Accés restringit |