Ir al contenido (pulsa Retorno)

Universitat Politècnica de Catalunya

    • Català
    • Castellano
    • English
    • LoginRegisterLog in (no UPC users)
  • mailContact Us
  • world English 
    • Català
    • Castellano
    • English
  • userLogin   
      LoginRegisterLog in (no UPC users)

UPCommons. Global access to UPC knowledge

57.066 UPC E-Prints
You are here:
View Item 
  •   DSpace Home
  • E-prints
  • Grups de recerca
  • QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades
  • Ponències/Comunicacions de congressos
  • View Item
  •   DSpace Home
  • E-prints
  • Grups de recerca
  • QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades
  • Ponències/Comunicacions de congressos
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Statistical analysis of SRAM aarametric failure under supply voltage scaling

Thumbnail
View/Open
Vatajelu_05520825.pdf (536,3Kb) (Restricted access)   Request copy 

Què és aquest botó?

Aquest botó permet demanar una còpia d'un document restringit a l'autor. Es mostra quan:

  • Disposem del correu electrònic de l'autor
  • El document té una mida inferior a 20 Mb
  • Es tracta d'un document d'accés restringit per decisió de l'autor o d'un document d'accés restringit per política de l'editorial
Share:
 
 
10.1109/AQTR.2010.5520825
 
  View Usage Statistics
Cita com:
hdl:2117/11965

Show full item record
Vatajelu, Elena Ioana
Figueras Pàmies, JoanMés informació
Document typeConference report
Defense date2010
PublisherIEEE Computer Society Publications
Rights accessRestricted access - publisher's policy
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
Except where otherwise noted, content on this work is licensed under a Creative Commons license : Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
CitationVatajelu, E.; Figueras, J. Statistical analysis of SRAM aarametric failure under supply voltage scaling. A: IEEE-TTTC International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics. "IEEE Automation, Quality and Testing, Robotics - AQTR 2010, Cl". Cluj Napoca: IEEE Computer Society Publications, 2010, p. 1-6. 
URIhttp://hdl.handle.net/2117/11965
DOI10.1109/AQTR.2010.5520825
Publisher versionhttp://ieeexplore.ieee.org/xpls/abs_all.jsp?arnumber=5520825
Collections
  • QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades - Ponències/Comunicacions de congressos [60]
  • QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat - Ponències/Comunicacions de congressos [78]
  • Departament d'Enginyeria Electrònica - Ponències/Comunicacions de congressos [1.583]
Share:
 
  View Usage Statistics

Show full item record

FilesDescriptionSizeFormatView
Vatajelu_05520825.pdfBlocked536,3KbPDFRestricted access

Browse

This CollectionBy Issue DateAuthorsOther contributionsTitlesSubjectsThis repositoryCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsOther contributionsTitlesSubjects

© UPC Obrir en finestra nova . Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius

info.biblioteques@upc.edu

  • About This Repository
  • Contact Us
  • Send Feedback
  • Inici de la pàgina