Statistical analysis of SRAM aarametric failure under supply voltage scaling
View/Open
Vatajelu_05520825.pdf (536,3Kb) (Restricted access)
Request copy
Què és aquest botó?
Aquest botó permet demanar una còpia d'un document restringit a l'autor. Es mostra quan:
- Disposem del correu electrònic de l'autor
- El document té una mida inferior a 20 Mb
- Es tracta d'un document d'accés restringit per decisió de l'autor o d'un document d'accés restringit per política de l'editorial
Cita com:
hdl:2117/11965
Document typeConference report
Defense date2010
PublisherIEEE Computer Society Publications
Rights accessRestricted access - publisher's policy
Except where otherwise noted, content on this work
is licensed under a Creative Commons license
:
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
CitationVatajelu, E.; Figueras, J. Statistical analysis of SRAM aarametric failure under supply voltage scaling. A: IEEE-TTTC International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics. "IEEE Automation, Quality and Testing, Robotics - AQTR 2010, Cl". Cluj Napoca: IEEE Computer Society Publications, 2010, p. 1-6.
Publisher versionhttp://ieeexplore.ieee.org/xpls/abs_all.jsp?arnumber=5520825
Collections
- QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades - Ponències/Comunicacions de congressos [60]
- QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat - Ponències/Comunicacions de congressos [78]
- Departament d'Enginyeria Electrònica - Ponències/Comunicacions de congressos [1.583]
Files | Description | Size | Format | View |
---|---|---|---|---|
Vatajelu_05520825.pdf![]() | 536,3Kb | Restricted access |