Fast electro-thermal simulation of short-circuit tests

Thumbnail
View/Open
Abomailek Rubio, Basel CarlosMés informació
Riba Ruiz, Jordi-RogerMés informacióMés informació
Capelli, Francesca
Moreno Eguilaz, Juan ManuelMés informacióMés informació
Document typeArticle
Defense date2017-06-01
Rights accessOpen Access
CitationAbomailek, B., Riba, J., Capelli, F., Moreno-Eguilaz, J.M. Fast electro-thermal simulation of short-circuit tests. "IET generation, transmission and distribution", 1 Juny 2017, vol. 11, núm. 8, p. 2124-2129. 
URIhttp://hdl.handle.net/2117/105896
DOI10.1049/iet-gtd.2016.2061
ISSN1751-8687
Publisher versionhttp://digital-library.theiet.org/content/journals/10.1049/iet-gtd.2016.2061
Collections

FilesDescriptionSizeFormatView
Submission_IET_2017_02_15.pdf747,8KbPDFView/Open
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
Except where otherwise noted, content on this work is licensed under a Creative Commons license : Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain