Fast electro-thermal simulation of short-circuit tests
Visualitza/Obre
Cita com:
hdl:2117/105896
Tipus de documentArticle
Data publicació2017-06-01
Condicions d'accésAccés obert
Llevat que s'hi indiqui el contrari, els
continguts d'aquesta obra estan subjectes a la llicència de Creative Commons
:
Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 3.0 Espanya
CitacióAbomailek, B., Riba, J., Capelli, F., Moreno-Eguilaz, J.M. Fast electro-thermal simulation of short-circuit tests. "IET generation, transmission and distribution", 1 Juny 2017, vol. 11, núm. 8, p. 2124-2129.
ISSN1751-8687
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
Submission_IET_2017_02_15.pdf | 747,8Kb | Visualitza/Obre |