Fast electro-thermal simulation of short-circuit tests

Thumbnail
Visualitza/Obre
Abomailek Rubio, Basel CarlosMés informació
Riba Ruiz, Jordi-RogerMés informacióMés informació
Capelli, Francesca
Moreno Eguilaz, Juan ManuelMés informacióMés informació
Tipus de documentArticle
Data publicació2017-06-01
Condicions d'accésAccés obert
CitacióAbomailek, B., Riba, J., Capelli, F., Moreno-Eguilaz, J.M. Fast electro-thermal simulation of short-circuit tests. "IET generation, transmission and distribution", 1 Juny 2017, vol. 11, núm. 8, p. 2124-2129. 
URIhttp://hdl.handle.net/2117/105896
DOI10.1049/iet-gtd.2016.2061
ISSN1751-8687
Versió de l'editorhttp://digital-library.theiet.org/content/journals/10.1049/iet-gtd.2016.2061
Col·leccions

FitxersDescripcióMidaFormatVisualitza
Submission_IET_2017_02_15.pdf747.8KbPDFVisualitza/Obre
Llevat que s'hi indiqui el contrari, els continguts d'aquesta obra estan subjectes a la llicència de Creative Commons: Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 3.0 Espanya