Hot spot detection in integrated circuits laterally accessing to their substrate using a laser beam
Visualitza/Obre
Estadístiques de LA Referencia / Recolecta
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/10529
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació2010
EditorIEEE Computer Society Publications
Condicions d'accésAccés obert
Llevat que s'hi indiqui el contrari, els
continguts d'aquesta obra estan subjectes a la llicència de Creative Commons
:
Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 3.0 Espanya
Abstract
In this paper we present an electro-thermal coupling
simulation technique for RF circuits. The proposed methodology
takes advantage of well established tools for frequency translating
circuits in order to significantly reduce the computational
resources needed when frequencies of interest are separated by
orders of magnitude.
CitacióPerpiñà, X. [et al.]. Hot spot detection in integrated circuits laterally accessing to their substrate using a laser beam. A: 16th International workshop on Thermal investigations of ICs and Systems. "16th THERMINIC". Barcelona: IEEE Computer Society Publications, 2010, p. 117-121.
ISBN978-2-35500-012-6
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
Altet_therminic_2010_Hot Spot.pdf | text complet | 496,0Kb | Visualitza/Obre |