Deconstructing the governing dissipative phenomena in the nanoscale
Estadístiques de LA Referencia / Recolecta
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/102982
Tipus de documentReport de recerca
Data publicació2014-01
Condicions d'accésAccés obert
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
An expression describing the controlling parameters involved in short range nanoscale dissipation is proposed and supported by simulations and experimental findings. The expression is deconstructed into the geometrical, dynamic, chemical and mechanical properties of the system. In atomic force microscopy these are translated into 1) tip radius and tip-sample deformation, 2) resonant frequency and oscillation amplitude and 3) hysteretic and viscous dissipation. The latter are characteristic parameters defining the chemical and mechanical properties of the tip-sample system. Long range
processes are also discussed and footprints are identified in experiments conducted on mica and silicon samples. The present methodology can be exploited to validate or invalidate nanoscale dissipative models by comparing predictions with experimental observables.
CitacióSantos, S., Amadei, C., Tang, T., Barcons, V., Chiesa, M. "Deconstructing the governing dissipative phenomena in the nanoscale". 2014.
URL repositori externhttps://arxiv.org/abs/1401.6587
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
Deconstructing ... omena in the nanoscale.pdf | 651,2Kb | Visualitza/Obre |