Improvement of PAU/PARIS end-to-end performance simulator (P2EPS): land scattering including topography
Visualitza/Obre
07730464.pdf (534,3Kb) (Accés restringit)
Sol·licita una còpia a l'autor
Què és aquest botó?
Aquest botó permet demanar una còpia d'un document restringit a l'autor. Es mostra quan:
- Disposem del correu electrònic de l'autor
- El document té una mida inferior a 20 Mb
- Es tracta d'un document d'accés restringit per decisió de l'autor o d'un document d'accés restringit per política de l'editorial
10.1109/IGARSS.2016.7730464
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/100612
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació2016
EditorInstitute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Condicions d'accésAccés restringit per política de l'editorial
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
This work presents an improvement of the P2EPS end-to-end simulator to assess the performances of Global Navigation Satellite System Reflectometry (GNSS-R) space missions over land. Beyond the single specular reflection model, topography effects are included. In order to avoid the computational burden of facet approach based on the bi-static radar model, the Phong reflection model is employed. By calculating the delay, Doppler frequency, and relative intensity of scattered points, the topography effects can be accounted for as a sort of impulse response in the
delay, and Doppler domains to be convolved with the Woodward Ambiguity function.
CitacióPark, H., Camps, A., Pascual, D., Alonso-Arroyo, A., Querol, J., Onrubia, R. Improvement of PAU/PARIS end-to-end performance simulator (P2EPS): land scattering including topography. A: IEEE International Geoscience and Remote Sensing Symposium. "2016 IEEE International Geoscience & Remote Sensing Symposium: proceedings: July 10-15, 2016: Beijing, China". Beijing: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2016, p. 5607-5610.
ISBN9781509022342
Versió de l'editorhttp://ieeexplore.ieee.org/document/7730464/
Col·leccions
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
07730464.pdf | 534,3Kb | Accés restringit |