BIST : respuesta a los nuevos desafíos para el test de sistemas en chip (I)

Abstract

Las técnicas DIST posibilitan que un circuito integrado realice su propio test por sí mismo. BIST reduce los costes de test y mantenimiento para sistemas en chip gracias a la eliminación de costosos equipos externos de test y permitiendo la localización de circuitos defectuosos dentro de sistemas. DIST puede llevar a cabo el test a la frecuencia normal de funcionamiento del diseño, lo que es fundamental a la hora de detección de fallos relativos a la temporización. A pesar de estas ventajas, BIST ha tenido y tiene un uso muy limitado en la industria porque añade más área al circuito e incrementa el tiempo de diseño.