Show simple item record

dc.contributorPons Nin, Joan
dc.contributor.authorLópez Esteban, David
dc.contributor.otherUniversitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica
dc.date.accessioned2009-10-13T11:27:09Z
dc.date.available2009-10-13T11:27:09Z
dc.date.issued2009-07-15
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2099.1/7610
dc.description.abstractEstudio y caracterización del efecto de la acumulación de carga en dispositivos MEMS mediante un modelo equivalente y la realización de medidas experimentales, todo ello con el objetivo de mantener el nivel de carga en el sistema alrededor de un determinado umbral.
dc.language.isospa
dc.publisherUniversitat Politècnica de Catalunya
dc.rightsAttribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
dc.subjectÀrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica
dc.subject.lcshMicroelectromechanical systems
dc.titleCaracterización y control de los efectos de la carga parásita en dispositivos MEMS
dc.typeMaster thesis (pre-Bologna period)
dc.subject.lemacSistemes microelectromecànics
dc.rights.accessOpen Access
dc.audience.educationlevelEstudis de primer/segon cicle
dc.audience.mediatorEscola Tècnica Superior d'Enginyeria de Telecomunicació de Barcelona
dc.audience.degreeENGINYERIA DE TELECOMUNICACIÓ (Pla 1992)


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
Except where otherwise noted, content on this work is licensed under a Creative Commons license : Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain