Mostra el registre d'ítem simple
Caracterización y control de los efectos de la carga parásita en dispositivos MEMS
| dc.contributor | Pons Nin, Joan |
| dc.contributor.author | López Esteban, David |
| dc.contributor.other | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica |
| dc.date.accessioned | 2009-10-13T11:27:09Z |
| dc.date.available | 2009-10-13T11:27:09Z |
| dc.date.issued | 2009-07-15 |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2099.1/7610 |
| dc.description.abstract | Estudio y caracterización del efecto de la acumulación de carga en dispositivos MEMS mediante un modelo equivalente y la realización de medidas experimentales, todo ello con el objetivo de mantener el nivel de carga en el sistema alrededor de un determinado umbral. |
| dc.language.iso | spa |
| dc.publisher | Universitat Politècnica de Catalunya |
| dc.rights | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain |
| dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
| dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica |
| dc.subject.lcsh | Microelectromechanical systems |
| dc.title | Caracterización y control de los efectos de la carga parásita en dispositivos MEMS |
| dc.type | Master thesis (pre-Bologna period) |
| dc.subject.lemac | Sistemes microelectromecànics |
| dc.rights.access | Open Access |
| dc.audience.educationlevel | Estudis de primer/segon cicle |
| dc.audience.mediator | Escola Tècnica Superior d'Enginyeria de Telecomunicació de Barcelona |
| dc.audience.degree | ENGINYERIA DE TELECOMUNICACIÓ (Pla 1992) |
