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dc.contributorGómez Pau, Álvaro
dc.contributor.authorBadia Arumí, Martí
dc.contributor.authorVidal Álvarez, Pablo
dc.contributor.otherUniversitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica
dc.date.accessioned2013-03-19T19:50:24Z
dc.date.issued2012-06
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2099.1/17707
dc.description.abstractEn este proyecto se diseña y construye un prototipo de banco de test para acelerómetros duales. En primer lugar se hace una revisión del estado del arte y las técnicas empleadas en la actualidad para el test de dispositivos Microelectromecánicos (MEMS). A continuación, se plantea el problema que presentan dichas técnicas y se propone una solución para el test de acelerómetros duales basada en el análisis visual de signaturas analógicas. En el cuerpo del documento, el lector encontrará los detalles y la justificación de todo el procedimiento de diseño electrónico y mecánico del prototipo así como la explicación del software implementado en las diferentes partes que conforman el sistema. Finalmente, se presentan los resultados obtenidos con el prototipo y se confirma mediante ellos la eficacia del sistema de test.
dc.language.isospa
dc.publisherUniversitat Politècnica de Catalunya
dc.subjectÀrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica
dc.subject.lcshAccelerometers -- Testing
dc.subject.lcshMicroelectromechanical systems
dc.titleDiseño y construcción de un banco de test y diagnosis de acelerómetros duales
dc.typeMaster thesis (pre-Bologna period)
dc.subject.lemacAcceleròmetres -- Proves
dc.subject.lemacSistemes microelectromecànics
dc.rights.accessRestricted access - author's decision
dc.date.lift10000-01-01
dc.audience.educationlevelEstudis de primer/segon cicle
dc.audience.mediatorEscola Tècnica Superior d'Enginyeria Industrial de Barcelona
dc.audience.degreeENGINYERIA INDUSTRIAL (Pla 1994)


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