On the Resilience of RTL NN Accelerators: Fault Characterization and Mitigation

Carregant...
Miniatura
El pots comprar en digital a:
El pots comprar en paper a:

Projectes de recerca

Unitats organitzatives

Número de la revista

Títol de la revista

ISSN de la revista

Títol del volum

Cita com:

Col·laborador

Editor

Tribunal avaluador

Realitzat a/amb

Tipus de document

Comunicació de congrés

Data publicació

Editor

IEEE

Condicions d'accés

Accés obert

Llicència

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització de la persona titular dels drets

Assignatures relacionades

Assignatures relacionades

Publicacions relacionades

Datasets relacionats

Datasets relacionats

Projecte CCD

Abstract

Machine Learning (ML) is making a strong resurgence in tune with the massive generation of unstructured data which in turn requires massive computational resources. Due to the inherently compute and power-intensive structure of Neural Networks (NNs), hardware accelerators emerge as a promising solution. However, with technology node scaling below 10nm, hardware accelerators become more susceptible to faults, which in turn can impact the NN accuracy. In this paper, we study the resilience aspects of Register-Transfer Level (RTL) model of NN accelerators, in particular, fault characterization and mitigation. By following a High-Level Synthesis (HLS) approach, first, we characterize the vulnerability of various components of RTL NN. We observed that the severity of faults depends on both i) application-level specifications, i.e., NN data (inputs, weights, or intermediate) and NN layers and ii) architectural-level specifications, i.e., data representation model and the parallelism degree of the underlying accelerator. Second, motivated by characterization results, we present a low-overhead fault mitigation technique that can efficiently correct bit flips, by 47.3% better than state-of-the-art methods.

Descripció

Persones/entitats

Document relacionat

Versió de

Citació

Salami, B.; Unsal, O. S.; Cristal, A. On the Resilience of RTL NN Accelerators: Fault Characterization and Mitigation. A: "2018 30th International Symposium on Computer Architecture and High Performance Computing (SBAC-PAD)". IEEE, 2019, p. 322-329.

Ajut

Forma part

Dipòsit legal

ISBN

978-1-5386-7769-8

ISSN

Altres identificadors

Referències