Digital signature generator for mixed-signal testing
Carregant...
El pots comprar en digital a:
El pots comprar en paper a:
Títol de la revista
ISSN de la revista
Títol del volum
Col·laborador
Editor
Tribunal avaluador
Realitzat a/amb
Tipus de document
Text en actes de congrés
Data publicació
Editor
IEEE Computer Society Publications
Condicions d'accés
Accés obert
Llicència
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització de la persona titular dels drets
Publicacions relacionades
Datasets relacionats
Projecte CCD
Abstract
Es presenta un nou generador de signatures digitals per controlar dues senyals anàlogues. Es presenta la tecnologia STM 65 nm per demostrar la viabilitat de la proposta.
Descripció
Ponència presentada al 14th IEEE European Test Symposium
Persones/entitats
Document relacionat
Versió de
Citació
Sanahuja, R. [et al.]. Digital signature generator for mixed-signal testing. A: 14th IEEE European Test Symposium. "14th IEEE European Test Symposium". SEVILLA: IEEE Computer Society Publications, 2009.
Ajut
Forma part
DOI
Dipòsit legal
ISBN
9780769537030
ISSN
Versió de l'editor
Altres identificadors
Referències
Col·leccions
Altres - Enviament des de DRAC
Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics (fins octubre 2015) - Ponències/Comunicacions de congressos
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades - Ponències/Comunicacions de congressos
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat - Ponències/Comunicacions de congressos
Departament d'Enginyeria Electrònica - Ponències/Comunicacions de congressos
Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics (fins octubre 2015) - Ponències/Comunicacions de congressos
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades - Ponències/Comunicacions de congressos
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat - Ponències/Comunicacions de congressos
Departament d'Enginyeria Electrònica - Ponències/Comunicacions de congressos