Banco automatizado para la medida de parámetros S, de ruido y características DC de transistores en oblea

Carregant...
Miniatura
El pots comprar en digital a:
El pots comprar en paper a:

Projectes de recerca

Unitats organitzatives

Número de la revista

Títol de la revista

ISSN de la revista

Títol del volum

Col·laborador

Editor

Tribunal avaluador

Realitzat a/amb

Tipus de document

Text en actes de congrés

Data publicació

Editor

Condicions d'accés

Accés obert

item.page.rightslicense

Creative Commons
Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Llevat que s'hi indiqui el contrari, els seus continguts estan subjectes a la llicència de Creative Commons: Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 3.0 Espanya

Assignatures relacionades

Assignatures relacionades

Publicacions relacionades

Datasets relacionats

Datasets relacionats

Projecte CCD

Abstract

The AMR Group has an automatized bench for the measurement of DC-characteristics, [S] parameters (45 MHz- 40 GHz) and noise parameters (2-26.5 GHz) of microwave on-wafer transistors. The hardware configuration is described, as well as the software applications developed. The measurement procedures are commented in detail, in particular those concerning the noise-parameters extraction techniques. Experimental results show the bench performances.

Descripció

Persones/entitats

Document relacionat

Versió de

Citació

Pradell, L., Purroy, F., Subirats, M., Ballester, A., Torres, F., O'callaghan, J., Corbella, I. Banco automatizado para la medida de parámetros S, de ruido y características DC de transistores en oblea. A: Simposium Nacional de la Unión Científica Internacional de Radio. "Unión Científica Internacional de Radio: IX Symposium Nacional: Las Palmas de Gran Canaria, 21-23 de Septiembre de 1994: actas, tomo III". Las Palmas de Gran Canaria: 1994, p. 1349-1353.

Ajut

Forma part

DOI

Dipòsit legal

ISBN

ISSN

Versió de l'editor

Altres identificadors

Referències