Defective Behaviour of an 8T SRAM Cell with Open Defects

Miniatura

Fitxers

05617198.pdf (680.67 KB) (Accés restringit) Sol·licita una còpia a l'autor
El pots comprar en digital a:
El pots comprar en paper a:
Estadístiques d'ús

Projectes de recerca

Unitats organitzatives

Número de la revista

Títol de la revista

ISSN de la revista

Títol del volum

Pàgina completa de l'ítem

Autors

Col·laborador

Editor

Tribunal avaluador

Realitzat a/amb

Tipus de document

Text en actes de congrés

Data publicació

2010

Editor

Condicions d'accés

Accés restringit per política de l'editorial

item.page.rightslicense

Creative Commons
Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Llevat que s'hi indiqui el contrari, els seus continguts estan subjectes a la llicència de Creative Commons: Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 3.0 Espanya

Assignatures relacionades

Assignatures relacionades

Publicacions relacionades

Datasets relacionats

Datasets relacionats

Projecte CCD

Abstract

Descripció

Persones/entitats

Document relacionat

Versió de

Citació

Rodríguez, R. [et al.]. Defective Behaviour of an 8T SRAM Cell with Open Defects. A: International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle. "Second International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle". Niça: 2010, p. 81-86.

Ajut

Forma part

URI

https://hdl.handle.net/2117/11989

DOI

10.1109/VALID.2010.19

Dipòsit legal

ISBN

978-1-4244-7784-5

ISSN

Versió de l'editor

http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=5617198

Altres identificadors

Referències

Col·leccions

Altres - Enviament des de DRAC
Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics (fins octubre 2015) - Ponències/Comunicacions de congressos
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades - Ponències/Comunicacions de congressos
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat - Ponències/Comunicacions de congressos
Departament d'Enginyeria Electrònica - Ponències/Comunicacions de congressos
Pàgina completa de l'ítem