Cross-talk extraction from mask layout
Carregant...
Fitxers
Cross-talk extraction from mask layout (.pdf, 377.77 KB) (Accés restringit) Sol·licita una còpia a l'autor
El pots comprar en digital a:
El pots comprar en paper a:
Títol de la revista
ISSN de la revista
Títol del volum
Col·laborador
Editor
Tribunal avaluador
Realitzat a/amb
Tipus de document
Text en actes de congrés
Data publicació
Editor
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Condicions d'accés
Accés restringit per política de l'editorial
Llicència
Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Llevat que s'hi indiqui el contrari, els seus continguts estan subjectes a la llicència de Creative Commons: Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 3.0 Espanya
Publicacions relacionades
Datasets relacionats
Projecte CCD
Abstract
The principles of an automated cross-talk extractor from the mask-level description of a CMOS integrated circuit are detailed. The physical extraction principles, the techniques for parasitic coupling evaluation and modeling, the technique for back-annotating the schematic diagram of the integrated circuit are presented. A model for mixed-level simulation is proposed, covering various parasitic effects of the cross-talk phenomenon. The efficiency of the cross-talk extractor is demonstrated through the analysis of mixed digital/analog CMOS integrated circuits where critical couplings are predicted and eliminated
Descripció
Persones/entitats
Document relacionat
Versió de
Citació
Sicard, E. [et al.]. Cross-talk extraction from mask layout. A: European Conference on Design Automation. "EDAC: European Conference on Design Automation: Amsterdam, The Netherlands: 25-28 February 1993". Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 1993, p. 414-418.
Ajut
Forma part
Dipòsit legal
ISBN
0-8186-3410-3




