Characterization of time domain EM field double-loaded curved loop probe

Carregant...
Miniatura
El pots comprar en digital a:
El pots comprar en paper a:

Projectes de recerca

Unitats organitzatives

Número de la revista

Títol de la revista

ISSN de la revista

Títol del volum

Col·laborador

Editor

Tribunal avaluador

Realitzat a/amb

Tipus de document

Text en actes de congrés

Data publicació

Editor

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Condicions d'accés

Accés obert

item.page.rightslicense

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització de la persona titular dels drets

Assignatures relacionades

Assignatures relacionades

Publicacions relacionades

Datasets relacionats

Datasets relacionats

Projecte CCD

Abstract

In this paper, we present and analyze the performance of a double-loaded curved loop probe to measure simultaneously electric and magnetic fields (EMF). The aim is to construct a probe that can be fitted to non-planar structures and have a proper response to EMF. The curved probe is studied in comparison with well-known planar probes, which have been verified and used previously. The time-domain data obtained through EM simulation allow us to identify if the probe's response is suitable although its geometry. Finally, the probe has been constructed and evaluated with experimental test, measuring and validating the conclusions find out by the EM simulation.

Descripció

© 2018 IEEE. Personal use of this material is permitted. Permission from IEEE must be obtained for all other uses, in any current or future media, including reprinting/republishing this material for advertising or promotional purposes,creating new collective works, for resale or redistribution to servers or lists, or reuse of any copyrighted component of this work in other works

Persones/entitats

Document relacionat

Versió de

Citació

Pous, M. [et al.]. Characterization of time domain EM field double-loaded curved loop probe. A: IEEE Global Electromagnetic Compatibility Conference. "2018 IEEE 4th Global Electromagnetic Compatibility Conference (GEMCCON): Stellenbosch, South Africa: November 7-9, 2018: proceedings". Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2018, p. 1-5. ISBN 978-1-5386-5728-7. DOI 10.1109/GEMCCON.2018.8628570.

Ajut

Forma part

Dipòsit legal

ISBN

978-1-5386-5728-7

ISSN

Altres identificadors

Referències