FaulTM: Error detection and recovery using hardware transactional memory

Carregant...
Miniatura

Fitxers

06513504.pdf (905.83 KB) (Accés restringit) Sol·licita una còpia a l'autor
El pots comprar en digital a:
El pots comprar en paper a:

Projectes de recerca

Unitats organitzatives

Número de la revista

Títol de la revista

ISSN de la revista

Títol del volum

Cita com:

Col·laborador

Editor

Tribunal avaluador

Realitzat a/amb

Tipus de document

Text en actes de congrés

Data publicació

Editor

Condicions d'accés

Accés restringit per política de l'editorial

Llicència

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització de la persona titular dels drets

Assignatures relacionades

Assignatures relacionades

Publicacions relacionades

Datasets relacionats

Datasets relacionats

Projecte CCD

Abstract

Reliability is an essential concern for processor designers due to increasing transient and permanent fault rates. Executing instruction streams redundantly in chip multi processors (CMP) provides high reliability since it can detect both transient and permanent faults. Additionally, it also minimizes the Silent Data Corruption rate. However, comparing the results of the instruction streams, checkpointing the entire system and recovering from the detected errors might lead to substantial performance degradation. In this study we propose FaulTM, an error detection and recovery schema utilizing Hardware Transactional Memory (HTM) in order to reduce these performance degradations. We show how a minimally modified HTM that features lazy conflict detection and lazy data versioning can provide low-cost reliability in addition to HTM's intended purpose of supporting optimistic concurrency. Compared with lockstepping, FaulTM reduces the performance degradation by 2.5X for SPEC2006 benchmark.

Descripció

Persones/entitats

Document relacionat

Versió de

Citació

Yalcin, G.; Unsal, O.; Cristal, A. FaulTM: Error detection and recovery using hardware transactional memory. A: Design, Automation and Test in Europe. "Design, Automation and Test in Europe: Grenoble, France, March 18 - 22, 2013". Grenoble: 2013, p. 220-225.

Ajut

Forma part

Dipòsit legal

ISBN

978-398153700-0

ISSN

Versió de l'editor

Altres identificadors

Referències