SP2 - Test, Reliability and Functional Safety Trends for Automotive System-on-Chip
Carregant...
Fitxers
SP2-1.pdf (4.03 MB) (Accés restringit)
El pots comprar en digital a:
El pots comprar en paper a:
Títol de la revista
ISSN de la revista
Títol del volum
Col·laborador
Editor
Tribunal avaluador
Realitzat a/amb
Càtedra / Departament / Institut
Tipus de document
Text en actes de congrés
Data publicació
Editor
Part de
Condicions d'accés
Accés restringit per política de l'editorial
Llicència
Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Llevat que s'hi indiqui el contrari, els seus continguts estan subjectes a la llicència de Creative Commons: Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 4.0 Internacional
Datasets relacionats
Projecte CCD
Abstract
This paper encompasses three contributions by industry professionals and university researchers. The contributions describe different trends in automotive products, including both manufacturing test and run-time reliability strategies. The subjects considered in this session deal with critical factors, from optimizing the final test before shipment to market to in-field reliability during operative life.
Descripció
Document relacionat
Citació
Angione, F. [et al.]. SP2 - Test, Reliability and Functional Safety Trends for Automotive System-on-Chip. A: 27th IEEE European Test Symposium (ETS). 2022,